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数字电路实验 01 – | TTL门电路的逻辑功能测试「建议收藏」

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数字电路实验 01 – | TTL门电路的逻辑功能测试「建议收藏」一、实验目的和任务测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 了解测试的方法与测试的原理。二、实验原理介绍实验中用到的基本门电路的符号为：在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。三、实验数据、计算及分析…

大家好，又见面了，我是你们的朋友全栈君。

一、实验目的和任务

  1. 测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
  2. 了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理介绍

实验中用到的基本门电路的符号为：

数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试「建议收藏」

在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。

三、实验数据、计算及分析

数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试「建议收藏」

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